Zamonaviy X-ray diffractometer.

Ko‘p maqsadli X-ray Diffraction (XRD) tizimi ichki o‘rnatilgan aqlli yo‘riqnoma bilan

Avzalliklari

• Kukunli difraksiya

• Yupqa qatlam difraksiyasi

• (SAXS) (kichik burchakli sochilish): nanometr o‘lchamdagi yirikroq strukturalarni (molekula, zarralar shakli va hajmi) o‘lchaydi. 

• Cross-beam optics (CBO) module yupqa qatlamlar, notekis yuzalar va teksturali namunalar uchun ishlatiladi.

Qo‘llanilishi

1. Fazaviy tahlil – qaysi modda yoki faza mavjudligini aniqlash.

1. Kristall tuzilmani aniqlash – panjara turi (kubik, geksagonal, ...).

1. Amorf va kristall fazalarni farqlash.

1. Nanomateriallar – zarracha o‘lchamini aniqlash (Sherrer formulasi yordamida).

1. Farmatsevtika – dori moddalarning kristall shaklini tekshirish.
2. Materialshunoslik va geologiya – rudalar, qotishmalar, keramika, sement, katalizatorlar tahlili.